產(chǎn)品名稱：低溫卷繞試驗裝置

一、低溫卷繞試驗裝置概述

低溫冷彎試驗箱屬氣候模擬箱之一，適用于考核各種產(chǎn)品或材料及家用電器、儀器、儀表、元器件等電工電子產(chǎn)品，在低溫環(huán)境下的適應(yīng)性試驗，可供各種科研機(jī)構(gòu)及廠礦中心試驗室做試驗用。本試驗機(jī)適用于電線冷彎試驗，先設(shè)定試驗箱的溫度，當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)定值時，取一定長的試樣放入，到試驗時間后，立即以均勻之速度繞于規(guī)定直徑之圓棒上，后取出試樣，檢視是否有龜裂、裂痕。

二、低溫卷繞試驗裝置特點

1、獨特的平衡調(diào)溫方式，使設(shè)備具有高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。

2、工作室采用上等不銹鋼板材，試樣擱架亦采用不銹鋼元制成，耐腐蝕、易于清洗。

3、設(shè)備溫控儀具有高精度、高穩(wěn)定性，PID自調(diào)諧、LED直觀顯示，確保設(shè)備**控制。

3、設(shè)備具有超溫保護(hù)和定時功能，在定時結(jié)束或報警時，自動切斷電源使設(shè)備停止動行，確保設(shè)備和人身的**。

4、設(shè)備密封條采用硅膠材料，具有韌性好，在高低溫環(huán)境下，不易變形發(fā)粘等特點。

5、箱體采用不銹鋼，色調(diào)均勻，美觀大方。

三、低溫卷繞試驗裝置行標(biāo)準(zhǔn)及主要技術(shù)參數(shù)

此試驗機(jī)符合GB2951.4、UL62、IEC540、VED的試驗標(biāo)準(zhǔn)。試件在特定低溫環(huán)境下，依不同棒徑卷繞，以檢查其表面是否產(chǎn)生龜裂。

溫度范圍：-40℃～RT℃

內(nèi)徑尺寸：40×50×50cm

外徑尺寸：87×100×170cm

四、 低溫卷繞試驗裝置產(chǎn)品使用條件

1、    溫度：15～35℃；

2、    相對濕度：不大于85%R.H;

3、    大氣壓:86-106Mpa；

4、    電壓：AC 220V

5、    功率：5KW

6、    周圍無強(qiáng)烈振動;’

7、    無陽光直接照射或其它熱源直接輻射;

8、    周圍無強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣強(qiáng)制流動時,氣流不應(yīng)直接吹到箱體上;

9、    周圍無強(qiáng)電磁場影響;

10、  周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì);

11、  為保證設(shè)備的正常運轉(zhuǎn)和操作的方便,除保持設(shè)備水平安放外,設(shè)備與墻壁或器物之間應(yīng)預(yù)留一定的空間。

五、  **注意事項

1、    為保護(hù)設(shè)備和本著試驗的**，請安裝外部保護(hù)機(jī)構(gòu)。

2、    設(shè)備應(yīng)水平安裝，嚴(yán)禁傾斜放置。

3、    設(shè)備系統(tǒng)非**人員不得拆卸、維修。

4、    試驗中，除非**必要切勿打開箱蓋，否則可能會引人身傷害，系統(tǒng)誤動作。

5、    設(shè)備應(yīng)有可靠接地，以策**和保護(hù)控制系統(tǒng)有效的控制。

6、    如果設(shè)備內(nèi)放入發(fā)熱試樣時，試樣電源請用外加電源，不要直接使用設(shè)備電源。

7、    **禁止對爆炸性，可燃性及高腐蝕物質(zhì)的試驗。

8、    設(shè)備電源斷路器、超溫保護(hù)系統(tǒng)、提供設(shè)備試件、操作人員的**保護(hù)請定期檢查。

9、    詳細(xì)閱讀說明書后，方可操作本設(shè)備。

六、  低溫卷繞試驗裝置使用注意事項

1、    本機(jī)工作于0℃以下時，應(yīng)避免打開箱門，否則造成箱內(nèi)蒸發(fā)器等部位產(chǎn)生結(jié)霜結(jié)水，降低本機(jī)使用效率。

2、    完成低溫運行后，請將本機(jī)設(shè)定為60℃,進(jìn)行30分鐘干燥運行。

3、    本機(jī)附有定時開關(guān)，當(dāng)箱內(nèi)溫度達(dá)到試驗溫度后，如需定時運行，請予打開，達(dá)到所設(shè)定的時間后，本機(jī)將自動切斷電源，并發(fā)出提示信號。

4、    試驗過程中，如打開箱門，可能會導(dǎo)致系統(tǒng)PID誤解，觸發(fā)超溫保護(hù)，請予以避免。

5、    設(shè)備冷機(jī)在冷機(jī)開關(guān)打開后，進(jìn)入延時保護(hù)狀態(tài)，切勿于本狀態(tài)中強(qiáng)行起動。

6、    儀表操作中請勿改變已定參數(shù)值，否則難以保證設(shè)備控制精度。

7、    本設(shè)備附有觀察窗及照明裝置，以便觀察試驗室內(nèi)試驗情況，該照明裝置僅用于觀察時使用。